Kategorie

Aktualności

Rozszerzony zakres akredytacji Laboratorium Wzorcującego NDN!

Bardzo nam miło Państwa poinformować, że nasza akredytacja została rozszerzona o:

  • Mierniki mocy 1 – i 3- fazowe
  • Oscyloskopy do 20 GHz
  • Skopometry
  • Zasilacze do 1000 A (Prąd DC)
  • Wzorcowanie wyjazdowe zasilaczy (u klienta).

Uwaga: Dodatkowo obniżyliśmy naszą niepewność CMC!

Czytaj więcej...
NDN na Energetab 2024

Serdecznie zapraszamy do odwiedzenia naszego stoiska (W-23 w hali W) ENERGETAB 2024

Czytaj więcej...
Zarejestruj się na warsztaty EMC

Zapraszamy na warsztaty teoretyczno-praktyczne poświęcone tematyce EMC organizowane przez firmę NDN. Warsztaty będą prowadzone przez przedstawicieli firm Tekbox i Rigol.

Data: 07.10.2024r. g.9:00-17:00

Lokalizacja: ARCHE Hotel Puławska Residence, Puławska 361, Warszawa  

Czytaj więcej...

Aktualności

System testujący transmisję RCS w zakresie fal mikro- i milimetrowych - Ceyear

Producent:

Ceyear
Cena:

Skontaktuj się z nami
Cena ustalana indywidualnie

Zapytaj o produkt

Microwave/Millimeter-Wave RCS Test System

  • Microwave/Millimeter-wave Antena Test SystemOne/two/three-dimensional RCS imaging, capable of imaging diagnosis and analysis of target strong scatter;
  • Fast imaging of target local scattering property, can achieve fast imaging at a near distance in the working environment;
  • Technology utilizing near-field measurements to characterize far field RCS, which expands customers’ test scopes;
  • Flexible system configuration enables free selection of local oscillator and emitter type, frequency extension is fast and convenient;
  • Multi-domain measurement functionality offers three modes: frequency domain, time domain and angle domain;
  • RCS measurement and calibration can eliminate impact on measurement results by errors and improve measurement precision;
  • Time domain gate of hardware can compress background interference by pulse measurement technology and enhance measurement precision;
  • Independent external IF input interface can realize external IF input and increase application flexibility.
  • One/two/three-dimensional RCS imaging
Aby móc pobrać ten plik musisz być zalogowany. Zaloguj się lub zarejestruj.
Wszelkie prawa zastrzeżone przez NDN © Created by Subinet