Metrix OX 7062

• Pasmo przepustowe: 60 MHz
  
• Szybkość próbkowania do 2,5 GSa/s dla pojedynczej rejestracji, 100 GSa/s dla sygnałów powtarzających się
  
• Dwa izolowane kanały
  
• Pamięć akwizycji do 2,5 kpkt (opcjonalnie do 50 kpkt)
  
• Rozdzielczość pionowa 12 bitów
  
• Czułość pionowa od 2,5 mV/dz do 200 V/dz. (do 156 ?V maks. z funkcją ZOOM)
  
• Podstawa czasu od 1 ns/dz do 200 s/dz
  
• Różnorodne, zaawansowane tryby wyzwalania 
  
• Funkcja analizy FFT
  
• Funkcje matematyczne: dodawanie, odejmowanie, mnożenie, dzielenie i ich kombinacje
  

CECHY TYPOWE DLA FUNKCJONALNOŚCI MULTIMETRU

• Dwa izolowane kanały pomiarowe z pasmem przepustowym 200 kHz 
  
• Funkcja pomiaru prawdziwej wartości skutecznej TRMS dla prądów i napięć AC, AC+DC
  
• Pomiar: Napięcie, natężenie prądu, częstotliwość, rezystancja, pojemność, temperatura (Pt 100, termopara K), test diod i ciągłości, tryb względny, tryb wartości min./maks.
  
• Pomiar mocy czynnej, biernej, pozornej oraz współczynnika mocy dla układu jednofazowego i  trzyfazowego zrównoważonego (opcja) z równoczesnym pomiarem napięcia i natężenia prądu 
  
• Reprezentowanie wyników w postaci liczbowej, za pomocą bargrafu i graficznie z odczytem za pomocą kursorów (możliwość zapisania przebiegów w uniwersalnym formacie tekstowym z czasem trwania od 5 min do 31 dni) 
  

CECHY TYPOWE DLA FUNKCJONALNOŚCI ANALIZATORA HARMONICZNYCH ( funkcjonalność występuje jako opcja)

• Analiza 2-kanałowa do 61 rzędu, częstotliwość podstawowa od 40 Hz do 450 Hz
  
• Jednoczesny pomiar całkowitego napięcia Vrms, współczynnika zawartości harmonicznych THD  oraz pomiary na dowolnie wybranej harmonicznej (% podstawowej, częstotliwość, Vrms, itp)
  
• Wskazanie mocy pozornej dla każdej harmonicznej dla układu jednofazowego (opcja)
  

CECHY TYPOWE DLA FUNKCJONALNOŚCI REJESTRATORA (funkcjonalność występuje jako opcja)

• Zapis wielokanałowy z czasem zapisu od 2 s do 31 dni, Okres próbkowania z zakresu od 800 ?s do 18 min (od 40 ?s do 53 s przy zakupie opcji rozszerzenia pamięci akwizycji)
  
• Rozbudowana analiza zapisów: pomiary z kursorami, wyszukiwanie błędów, zoom itd.