ITECH SPS5000 - oprogramowanie do testowania parametrów półprzewodników

Oprogramowanie SPS5000 do testowania parametrów elementów półprzewodnikowych
Profesjonalne oprogramowanie SPS5000 firmy ITECH do testowania elementów półprzewodnikowych jest dostarczane wraz z precyzyjnym źródłem mierzącym IT2800. Oprogramowanie SPS5000 umożliwia szybkie stworzenie charakterystyki IU elementu półprzewodnikowego oraz test jego parametrów. Oprogramowanie obsługuje tryby przemiatania: DC, impulsowy, jednorazowy i dwukierunkowy. Jest wyposażone w graficzny, intuicyjny interfejs użytkownika, który umożliwia szybkie przeprowadzenie testu elementu półprzewodnikowego. Do obsługi SPS5000 nie jest wymagana wiedza z dziedziny programowania. Oprogramowanie zapewnia użytkownikowi "gotowe do natychmiastowego wykorzystania" zestawy parametrów różnych półprzewodników np. typu MOSFET, BJT, diod i rezystorów.
        
Własności
• Intuicyjny, graficzny interfejs użytkownika upraszcza wstępne konfigurowanie testu, otrzymywanie charakterystyki UI i analizę danych.
• Zapewnia gotowe do użytku zestawy elementów testu różnych podzespołów półprzewodnikowych np. typu MOSFET, BJT, a także diod i rezystorów.
• Funkcja automatycznej sekwencji testowej przeznaczona do prowadzenia w sposób ciągły testów wielu parametrów *1
• Kreślenie w czasie rzeczywistym i w sposób interaktywny wykresu na podstawie otrzymywanych danych pomiarowych przyśpiesza przeglądanie wyników testu.
• Tryb szybkiego testu polegający na jednoczesnym teście 32 obiektów pomiarowych
• Wbudowana baza danych umożliwiająca użytkownikowi zapisywanie i szybkie przywoływanie danych i wykresów
• Wydajne narzędzia analizy graficznej takie, jak automatyczne skalowanie i operacje liniowe
• Własności analizy przy kilku osiach X, konfigurowania typu parametru, a także typu skali Y i X
• Funkcja dostosowywania testowanego elementu do indywidualnych potrzeb użytkownika *2
• Oprogramowanie pracujące pod nadzorem systemu operacyjnego MS Windows 7 i wersji nowszych
• Głowica pomiarowa IT-E803 przeznaczona do testowania diod małej mocy oraz elementów typu MOSFET (42 V, 1 A)
• Oprogramowanie przystosowane do współpracy ze źródłami mierzącymi serii IT2800, przy minimalnej rozdzielczości wynoszącej 100 nV/10 fA
*1 Elementy testu, które dotyczą tego samego okablowania pomiarowego
*2 Wkrótce więcej informacji na ten temat

W wyposażeniu źródła mierzącego IT2800

* Wersje oznaczone literą R mają wyjścia pomiarowe na obu płytach przedniej i tylnej, przy czym na płycie tylnej jest złącze koncentryczne typu triax.

Zastosowania
SPS5000 jest rzetelnym oprogramowaniem przeznaczonym do testowania półprzewodników w instytutach naukowo-badawczych, zakładach produkujących podzespoły półprzewodnikowe i uczelniach.




Gotowe do natychmiastowego użycia zestawy elementów testu przyśpieszają uzyskiwanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych
Oprogramowanie STS5000 zapewnia użytkownikowi gotowe do użycia zestawy parametrów testu elementów typu MOSFET, BJT, diod i rezystorów. Umożliwia wstępne skonfigurowanie pomiaru, a następnie zbieranie danych bez potrzeby powtórnego programowania. Jeśli weźmiemy dla przykładu test elementu MOSFET, to typowy proces testowania będzie przebiegać następująco: zdefiniowanie zmiennych testu, opracowanie metod testowania, napisanie zautomatyzowanego kodu testu, przeprowadzenie testu, przeanalizowanie otrzymanych danych. Używając oprogramowania STS5000, użytkownik może skrócić proces testowania do trzech kroków przy wybranych wcześniej elementach testu. Krok pierwszy polega na wybraniu gotowego do użycia elementu testu (na przykład Id-Ud). Krok drugi polega na skonfigurowaniu warunków pomiaru, a krok trzeci i ostatni wymaga tylko kliknięcia na ekranie odpowiedniego przycisku w celu rozpoczęcia testu. Po zakończeniu testu użytkownik może automatycznie pobierać dane i wykresy.

Przykłady elementów testu "gotowych do użycia"

Tryb automatycznej sekwencji pomiarowej umożliwia przeprowadzenie testu wielu parametrów
Oprogramowanie SPS5000 zapewnia swoim użytkownikom elastyczny i niezwykle wydajny tryb testowania przez umożliwienie im sporządzania sekwencji pomiarowych z gotowymi do użycia parametrami testu. Tryb automatycznej sekwencji pomiarowej staje się bardzo ważny, gdy zachodzi potrzeba wydajnego zbierania danych pomiarowych jednocześnie wielu parametrów elementów półprzewodnikowych. Gdy na przykład wybierze się element testowy Id-Ud podzespołu półprzewodnikowego typu MOSFET, to SPS5000 automatycznie przywoła inne elementy testu o tym samym układzie połączeń przewodowych takie, jak Uth lub Id-Ud elementu FET. Zależnie od potrzeby użytkownik SPS5000 może przeprowadzić test tylko jednego elementu testu (np. Id-Ud) lub połączyć je w sekwencję szybkiego testu wielu parametrów (np. Id-Ud → Uth → pątla Iwł/Iwył → ...).

Opis produktu Własności produktu Funkcje i zalety Baza danych Odnośna treść

Wydajny tryb szybkiego testu i obsługa maksymalnie 32 kanałów
SPS5000 obsługuje szybki test umożliwiający przeprowadzenie pomiaru synchronicznego podzespołów przewodnikowych w 32 kanałach. Można go używać do 32 różnych obiektów pomiarowych lub 32 takich samych, bez żadnych ograniczeń pomiarowych, poprawiając znacznie wykorzystanie sprzętu. Innymi słowy oprogramowanie SPS5000 umożliwia wykonywanie różnych sekwencji testowych jednocześnie dla różnych obiektów pomiarowych. Tryb testu szybkiego jest bardzo przydatny do testów serii i w badaniach jednocześnie wielu podzespołów prowadzonych w laboratoriach.

Automatyczna analiza i własność graficznego wyświetlania przyśpieszają analizowanie parametrów
Oprogramowanie SPS5000 oparte na graficznym interfejsie użytkownika umożliwia mu szybkie przeprowadzenie ustawiania wstępnego i otrzymanie wyników w postaci graficznej. Oprogramowanie to nie tylko wyświetla bezpośrednio wartości parametrów obliczanych i wyprowadzanych, lecz również zapewnia użytkownikowi wydajne narzędzia do analizy graficznej takie, jak auto-skalowanie oraz operacje liniowe (linia stała, styczna, linia regresji). Użytkownik może też używać funkcji "rozbierania" do oznaczania na wykresie regionów stanów odcięcia lub nasycenia. SPS5000 obsługuje również wiele własności osi Y. Użytkownik może elastycznie konfigurować typy danych osi X i Y, przedstawianych na skali logarytmicznej lub liniowej, zależnie od wymagań danej analizy.


Elementy testu definiowane przez użytkownika
Oprócz elementów testu "gotowych do użycia" oprogramowanie SPS5000 zapewnia funkcję elementów testu definiowanych przez użytkownika. Może on mieć bezpośredni dostęp sprzętowy do źródła mierzącego serii IT2800 i ustawiać samodzielnie różne parametry testu takie, jak napięcie wyjściowe i prąd wyjściowy, liczba kroków przemiatania, zakres przemiatania itd. Ponadto użytkownik, aby przyśpieszyć opracowywanie elementów testu, może kopiować kod elementów testu "gotowych do użycia" w celu szybkiej ich modyfikacji bez potrzeby tworzenia ich przy użyciu specjalnej aplikacji, co znacznie poprawi efektywność pracy.