Kategorie

Aktualności

Firma NDN nieczynna 5.06.2026

Uprzejmie informujemy, że 5. czerwca 2026 firma NDN będzie nieczynna

Czytaj więcej...
Rozwiązania testowe dla centrów danych ITECH – kompleksowy przewodnik

Dynamiczny rozwój sztucznej inteligencji (AI) oraz rosnące zapotrzebowanie na moc obliczeniową sprawiają, że centra danych wymagają nowoczesnych, wydajnych i niezawodnych systemów testowych. Rozwiązania ITECH umożliwiają kompleksowe testowanie infrastruktury zasilania – od pojedynczych komponentów po całe systemy.

Czytaj więcej...
Yokogawa świętuje 110 lat zaufania i precyzji! Jubileuszowe promocje!

YOKOGAWA od ponad 110 lat dostarcza precyzyjne, niezawodne i trwałe technologie pomiarowe – od nowoczesnych oscyloskopów, przez rejestratory ScopeCorder, aż po analizatory mocy. Z okazji jubileuszu świętujemy tę siłę innowacji wraz z wyjątkowymi ofertami – idealnymi dla wszystkich, którzy stawiają na jakość YOKOGAWY. 

RABATY DO -20%!

Czytaj więcej...

Aktualności

System testujący transmisję RCS w zakresie fal mikro- i milimetrowych - Ceyear

Producent:

Ceyear
Cena:

Skontaktuj się z nami
Cena ustalana indywidualnie

Zapytaj o produkt

Microwave/Millimeter-Wave RCS Test System

  • Microwave/Millimeter-wave Antena Test SystemOne/two/three-dimensional RCS imaging, capable of imaging diagnosis and analysis of target strong scatter;
  • Fast imaging of target local scattering property, can achieve fast imaging at a near distance in the working environment;
  • Technology utilizing near-field measurements to characterize far field RCS, which expands customers’ test scopes;
  • Flexible system configuration enables free selection of local oscillator and emitter type, frequency extension is fast and convenient;
  • Multi-domain measurement functionality offers three modes: frequency domain, time domain and angle domain;
  • RCS measurement and calibration can eliminate impact on measurement results by errors and improve measurement precision;
  • Time domain gate of hardware can compress background interference by pulse measurement technology and enhance measurement precision;
  • Independent external IF input interface can realize external IF input and increase application flexibility.
  • One/two/three-dimensional RCS imaging
Aby móc pobrać ten plik musisz być zalogowany. Zaloguj się lub zarejestruj.
Wszelkie prawa zastrzeżone przez NDN © Created by Subinet