Kategorie

Aktualności

Rozwiązania testowe dla centrów danych ITECH – kompleksowy przewodnik

Dynamiczny rozwój sztucznej inteligencji (AI) oraz rosnące zapotrzebowanie na moc obliczeniową sprawiają, że centra danych wymagają nowoczesnych, wydajnych i niezawodnych systemów testowych. Rozwiązania ITECH umożliwiają kompleksowe testowanie infrastruktury zasilania – od pojedynczych komponentów po całe systemy.

Czytaj więcej...
Yokogawa świętuje 110 lat zaufania i precyzji! Jubileuszowe promocje!

YOKOGAWA od ponad 110 lat dostarcza precyzyjne, niezawodne i trwałe technologie pomiarowe – od nowoczesnych oscyloskopów, przez rejestratory ScopeCorder, aż po analizatory mocy. Z okazji jubileuszu świętujemy tę siłę innowacji wraz z wyjątkowymi ofertami – idealnymi dla wszystkich, którzy stawiają na jakość YOKOGAWY. 

RABATY DO -20%!

Czytaj więcej...
Nowa seria trzykanałowych programowalnych zasilaczy DC ITECH IT-N6300

Firma ITECH Electronics prezentuje nową serię IT-N6300 — trzykanałowe programowalne zasilacze DC zaprojektowane z myślą o potrzebach testów wielokanałowych. Dowiedz się więcej!

Czytaj więcej...

Aktualności

Zapraszamy na 2. edycję warsztatów EMC organizowanych przez NDN!

Zapraszamy na konferencję EMC 2025!

Data: 17 marca 2025
Miejsce: ARCHE Hotel Puławska Residence, Warszawa, ul. Puławska 361
Godziny: 9:00 – 17:00

Organizujemy kolejną edycję konferencji EMC, podczas której przeprowadzimy testy emisji i odporności na zakłócenia (promieniowane i przewodzone) z wykorzystaniem urządzeń Tekbox oraz Rigol.

Prowadzący:

  • Michael Mayerhofer (Tekbox)
  • Stanisław Jasiński (Rigol)

Zajęcia prowadzone będą w języku angielskim.

Udział w konferencji jest bezpłatny. W przerwach zapewniamy kawę, herbatę oraz lunch.

Liczba miejsc jest ograniczona – decyduje kolejność zgłoszeń.

Rejestracja:

Aby zapisać się na warsztaty, prosimy o przesłanie zgłoszenia na adres ndn@ndn.com.pl z tytułem: "Zapisy na warsztaty EMC". W wiadomości należy podać:

  • nazwę firmy,
  • imię i nazwisko,
  • adres e-mail.

Tematyka:

EMC Standards
Structure of standards, base standards for emission and susceptibility; where to obtain standards

EMC Pre-Compliance Test Overview
Purpose of pre –compliance testing, types of tests, complexity and accuracy considerations

Spectrum Analyzer
CISPR requirements for spectrum analyzer measurements; effects on analyzer settings and performance

Conducted Emission Testing
Conducted emission test setups

Conducted Emission Transducer Properties
LISN, ISN, CDNE, RF current probes, Absorbing clamps, Voltage probe and other transducers

Radiated Emission Testing I
Test-house setup, pre-compliance setups using TEM cells and antennas

Radiated Emission Testing II
special cases of radiated emission tests

Radiated Immunity testing
Test-house setup, pre-compliance setup using TEM cells and wideband RF power amplifiers

Conducted Immunity testing
Pre-compliance setups with CDNs and BCI probes

EMCview overview
Capabilities and features of the EMCview software

The theory is accompanied by practical demonstration of setups

Parking:

Podczas konferencji dostępny będzie darmowy parking podziemny. Przy wjeździe należy pobrać bilet, a przed wyjazdem aktywować go w recepcji. Po aktywacji obowiązuje 15 minut na wyjazd.

Zapraszamy!

Klauzula informacyjna RODO

Wszelkie prawa zastrzeżone przez NDN © Created by Subinet